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BeNano 90 Zeta 納米粒度及Zeta電位分析儀 是 BeNano 90 + BeNano Zeta 二合一的光學檢測系統。該系統中集成了動態光散 DLS、電泳光散射 ELS 和靜態光散射技術 SLS，可以準確的檢測顆粒的粒徑及粒徑分布，Zeta 電位，高分子和蛋白體系的分子量信息等參數，可廣泛的應用于化學、化工、生物、制藥、食品、材料等領域的基礎研究和質量分析與控制。

BeNano 180 納米粒度儀是采用背向散射技術用于檢測納米顆粒粒度及其分布的光學檢測系統。它基于動態光散射原理，樣品分散在樣品池中，通過激光照射到樣品上，光電檢測器在背向 173°角檢測樣品顆粒布朗運動造成的散射光強隨時間的波動，再通過相關器進行自相關運算得出樣品的自相曲線，結合數學方法就可以得到顆粒的擴散系數，進一步利用斯托克斯 - 愛因斯坦方程就得到樣品的粒度結果

BeNano 180 Pro 納米粒度分析儀是 BeNano 180 + BeNano 90 二合一的光學檢測系統。該系統中集成了背向 173°和經典的 90°動態光散射 DLS 和靜態光散射技術 SLS，可以準確的檢測各種濃度樣品的粒徑及粒徑分布，可廣泛的應用于化學、化工、生物、制藥、食品、材料等領域的基礎研究和質量分析與控制。雙角度結合測量兼顧高低濃度樣品，還具有檢測極微量樣品的能力。